薄膜表面檢測(ce)儀主要用于檢測(ce)薄膜在生(sheng)產過程中表面出(chu)現(xian)的黑點(dian)、晶點(dian)、劃(hua)傷、破(po)洞、線(xian)條、褶(zhe)皺(zhou)、蚊(wen)蟲等(deng)缺(que)陷(xian),借助(zhu)于由工業CCD相機(ji)、高亮LED線(xian)性聚光光源組(zu)成的薄膜表面缺(que)陷(xian)檢測(ce)的成像系統,及時(shi)準確(que)的反應缺(que)陷(xian)的的圖片、形狀、尺寸以及位置等(deng)具體信息,在為質量控制、產品評(ping)級提供(gong)真(zhen)是(shi)準確(que)數據的同時(shi),有效(xiao)的節約(yue)了生(sheng)產成本、提高了產品質量。
更新時間:2023-11-20
廠商性質:生產廠家
美國KOCOUR庫侖(lun)/電(dian)解鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚儀KOCOUR 6000 美國KOCOUR公(gong)司庫侖(lun)鍍層(ceng)測(ce)(ce)厚儀Model: 6000,應用庫侖(lun)電(dian)量(liang)(liang)分析原理。其過程類似于電(dian)鍍,但電(dian)化學反應的方向相反,是電(dian)解除鍍。可以(yi)用于測(ce)(ce)量(liang)(liang)幾乎所有基體上的電(dian)鍍層(ceng)厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以(yi)及絕緣材(cai)料。例(li)如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環氧樹脂(zhi)上的銅等。
更新時間:2023-11-20
廠商性質:生產廠家
手持(chi)式(shi)ITM-525是(shi)在ITM-52基礎上(shang)的(de)增強型號,可快速(su),準確,無(wu)(wu)損測量通孔銅(tong)厚及無(wu)(wu)蝕刻(ke)印(yin)刷電(dian)路板(ban)(PCB)銅(tong)箔厚度。ITM-525用(yong)于生(sheng)產成本控制及保持(chi)高品質(zhi)的(de)印(yin)刷線路板(ban)的(de)生(sheng)產。ITM-525可采用(yong)USB數據與電(dian)腦連接連接,而ITM-52則(ze)采用(yong)紅外連接。
更新時間:2023-11-20
廠商性質:生產廠家